中心实验室举办扫描电镜技术讲座：FIB-SEM与低电压高分辨成像

讲座信息

中心实验室（分析测试中心）将于5月29日（周五）14:30–17:00在高水平实验楼B座一楼报告厅举办扫描电镜技术讲座。

报告一

题目：看见并重塑纳米世界——赛默飞FIB-SEM技术解析

报告人：罗俊（赛默飞世尔科技电镜产品专家），中山大学理工学院材料物理与化学专业毕业，长期从事扫描电镜应用开发与推广工作。

聚焦离子束-扫描电子显微镜（FIB-SEM）不仅能观察纳米世界，还能对其进行切割、修饰和三维重建。报告将介绍这一将高分辨率成像与精密加工合二为一的技术，以及SEM-FIB-XPS联用技术。

报告二

题目：多探测器低电压高分辨扫描成像技术

报告人：李英男（赛默飞世尔科技应用专家），近10年电镜使用经验。

报告将阐述低电压成像对提升表面敏感分辨率的核心价值，介绍Apreo 2S四种典型探测器的表征策略，并针对绝缘与束敏感材料提出优化实践路径。

来源：汕头大学 OA 通知（中心实验室、分析测试中心）